大理石檢測(cè)平臺(tái)也稱大理石檢驗(yàn)平臺(tái)、大理石平臺(tái)、花崗石平臺(tái)、花崗巖平臺(tái)、巖石平板、平板，是用于工件檢測(cè)或者劃線工作中的平面基準(zhǔn)器具，廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工制造活動(dòng)中。

大理石檢測(cè)平臺(tái)規(guī)格要求：

⑴大理石檢測(cè)平臺(tái)規(guī)格：大理石檢測(cè)平臺(tái)一般規(guī)格有200*300*50mm、300*300*80mm、300*400*80mm、400*400*80mm、400*500*100mm、400*600*100mm、500*500*100mm、500*600*100mm、500*800*100mm、500*800*130mm、600*800*100mm、600*800*130mm、600*900*100mm、600*900*130mm、1000*750*150mm、1000*750*200mm、1000*1000*150mm、1000*1000*200mm、1000*1500*200mm、1000*2000*200mm、1000*2000*250mm、1000*2500*200mm、1000*2500*250mm、1000*2500*300mm、1500*1500*200mm、1500*1500*250mm、1500*2000*200mm、1500*2000*250mm、1500*2000*300mm、1500*2500*250mm、1500*2500*300mm、1500*3000*250mm、1500*3000*300mm、2000*2000*200mm、2000*2000*250mm、2000*2000*300mm、2000*2500*200mm、2000*2500*250mm、2000*2500*300mm、2000*3000*300mm、2000*3000*400mm、2000*4000*300mm、2000*4000*400mm等，其它規(guī)格大理石平臺(tái)廠家可以定制定做。

⑵大理石檢測(cè)平臺(tái)要求：按照大理石平臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)GB/T20428-2006要求，大理石檢測(cè)平臺(tái)精度等級(jí)分為0級(jí)、1級(jí)和2級(jí)，具體大理石檢測(cè)平臺(tái)精度等級(jí)要求如下

0級(jí)大理石檢測(cè)平臺(tái)平面度允差（微米）=0.003乘以大理石檢測(cè)平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)度（mm）+2.5；

1級(jí)大理石檢測(cè)平臺(tái)平面度允差（微米）=0.006乘以大理石檢測(cè)平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)度（mm）+5；

2級(jí)大理石檢測(cè)平臺(tái)平面度允差（微米）=0.012乘以大理石檢測(cè)平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)度（mm）+10；

3級(jí)大理石檢測(cè)平臺(tái)平面度允差（微米）=0.024乘以大理石檢測(cè)平臺(tái)對(duì)角線長(zhǎng)度（mm）+20。